ГОСТ 18986.7-73

Все документы, представленные в каталоге, не являются их официальным изданием и предназначены исключительно для ознакомительных целей. Электронные копии этих документов могут распространяться без всяких ограничений.
Вы можете размещать информацию с этого сайта на любом другом сайте без каких-либо ограничений.

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда


Обозначение стандарта:	ГОСТ 18986.7-73

Статус стандарта:	действующий

Название рус.:	Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда

Название англ.:	Semiconductor diodes. Methods for measuring life time

Дата введения в действие:	01.01.1975

Область и условия применения:	Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ

Список изменений:	№0 от --1987-06-24 (рег. --1987-06-24) «Срок действия продлен» №1 от --1983-02-01 (рег. --1982-08-27) «Срок действия продлен»

	c=&f2=3&f1=II001&l='>ОКС Общероссийский классификатор стандартов c=&f2=3&f1=II001031&l='>31 ЭЛЕКТРОНИКА c=&f2=3&f1=II001031080&l='>31.080 Полупроводниковые приборы Полупроводниковые материалы см. 29.045 c=&f2=3&f1=II001031080010&l='>31.080.10 Диоды c=&f2=3&f1=II002&l='>КГС Классификатор государственных стандартов* c=&f2=3&f1=II002019&l='>Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь c=&f2=3&f1=II002019002&l='>Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратуры c=&f2=3&f1=II002019002009&l='>Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка